Chase
Contents:
  1. Built-in Self-Test (BIST) (Arabic)
    1. تعريف Built-in Self-Test (BIST)
    2. الخلفية التاريخية والتطورات التكنولوجية
    3. التقنيات المتعلقة والأسس الهندسية
      1. آليات BIST
      2. BIST مقابل الاختبارات التقليدية
    4. الاتجاهات الحديثة
    5. التطبيقات الرئيسية
    6. اتجاهات البحث الحالية والاتجاهات المستقبلية
    7. الشركات ذات الصلة
    8. المؤتمرات ذات الصلة
    9. الجمعيات الأكاديمية ذات الصلة

Built-in Self-Test (BIST) (Arabic)

تعريف Built-in Self-Test (BIST)

Built-in Self-Test (BIST) هو تقنية تستخدم في تصميم الدوائر الإلكترونية، حيث يتم تضمين آليات اختبار الذات داخل الدائرة نفسها. تهدف BIST إلى تمكين الجهاز من إجراء اختبارات ذاتية دون الحاجة إلى معدات اختبار خارجية. تساهم هذه التقنية في تحسين موثوقية الأنظمة الإلكترونية وتقليل تكلفة الاختبارات، مما يجعلها أداة حيوية في تصميم الدوائر المتكاملة مثل Application Specific Integrated Circuits (ASICs) وField Programmable Gate Arrays (FPGAs).

الخلفية التاريخية والتطورات التكنولوجية

بدأت تقنية BIST في الظهور في أوائل الثمانينيات كاستجابة للتحديات المتزايدة في اختبار الدوائر المتكاملة. في البداية، كانت الاختبارات تعتمد بشكل كبير على المعدات الخارجية، مما زاد من تكلفة وتصميم الأنظمة. مع تقدم التكنولوجيا وتزايد تعقيد الدوائر، أصبح من الضروري تطوير تقنيات مثل BIST لتسهيل عملية الاختبار.

على مر السنين، شهدت BIST العديد من التطورات، حيث تم تحسين الخوارزميات والطرق المستخدمة في تنفيذ الاختبارات. من بين هذه التطورات، تم دمج تقنيات مثل Built-in Logic Block Observers (BILBO) وTest Pattern Generation (TPG) لتعزيز أداء BIST.

التقنيات المتعلقة والأسس الهندسية

آليات BIST

تتضمن آليات BIST عدة مكونات أساسية:

  • اختبار الذات: يستخدم لتحديد الأعطال في النظام.
  • توليد أنماط الاختبار: يتم إنشاء أنماط اختبار خاصة لاختبار الوظائف المختلفة للدائرة.
  • تحليل النتائج: يتم تحليل نتائج الاختبارات لتحديد ما إذا كانت الدائرة تعمل بشكل صحيح.

BIST مقابل الاختبارات التقليدية

BIST الاختبارات التقليدية
يتطلب موارد أقل يتطلب معدات اختبار خارجية
يمكن تشغيله تلقائيًا يحتاج إلى تدخل بشري
يقلل من تكاليف الاختبار على المدى الطويل تكاليف اختبار أعلى بسبب المعدات

الاتجاهات الحديثة

تتجه الأبحاث الحالية نحو تحسين فعالية BIST من خلال دمج تقنيات الذكاء الاصطناعي والتعلم الآلي. هذه التقنيات تهدف إلى تحسين خوارزميات الاختبار والتنبؤ بالأعطال بشكل أكثر دقة. كما يتم استكشاف استخدام BIST في التطبيقات الدقيقة مثل إنترنت الأشياء (IoT) والتطبيقات الطبية.

التطبيقات الرئيسية

تستخدم BIST في مجموعة واسعة من التطبيقات، منها:

  • الدوائر المتكاملة: تحسين موثوقية ASICs وFPGAs.
  • الأنظمة الطبية: ضمان سلامة الأجهزة الطبية.
  • التطبيقات الفضائية: اختبار الأنظمة في بيئات قاسية.
  • أنظمة الاتصالات: تحسين أداء الشبكات.

اتجاهات البحث الحالية والاتجاهات المستقبلية

تشير الاتجاهات البحثية الحالية إلى التركيز على:

  • تحسين خوارزميات BIST: استخدام الذكاء الاصطناعي لتحليل البيانات.
  • تطبيق BIST في الأجهزة النانوية: تعزيز الاختبارات في الدوائر النانوية.
  • التقنيات القابلة للتكيف: تطوير أنظمة BIST القابلة للتكيف مع الظروف المتغيرة.

الشركات ذات الصلة

  • Intel
  • Texas Instruments
  • Synopsys
  • Mentor Graphics
  • Cadence Design Systems

المؤتمرات ذات الصلة

  • International Test Conference (ITC)
  • Design Automation Conference (DAC)
  • IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT)

الجمعيات الأكاديمية ذات الصلة

  • IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers)
  • ACM (Association for Computing Machinery)
  • IEEE Computer Society

BIST هي تقنية حيوية تسهم في تحسين موثوقية الدوائر الإلكترونية وتقليل التكاليف، مما يجعلها موضوعًا مثيرًا للاهتمام في مجال تكنولوجيا أشباه الموصلات وأنظمة VLSI.