Built-in Self-Test (BIST) هو تقنية تستخدم في تصميم الدوائر الإلكترونية، حيث يتم تضمين آليات اختبار الذات داخل الدائرة نفسها. تهدف BIST إلى تمكين الجهاز من إجراء اختبارات ذاتية دون الحاجة إلى معدات اختبار خارجية. تساهم هذه التقنية في تحسين موثوقية الأنظمة الإلكترونية وتقليل تكلفة الاختبارات، مما يجعلها أداة حيوية في تصميم الدوائر المتكاملة مثل Application Specific Integrated Circuits (ASICs) وField Programmable Gate Arrays (FPGAs).
بدأت تقنية BIST في الظهور في أوائل الثمانينيات كاستجابة للتحديات المتزايدة في اختبار الدوائر المتكاملة. في البداية، كانت الاختبارات تعتمد بشكل كبير على المعدات الخارجية، مما زاد من تكلفة وتصميم الأنظمة. مع تقدم التكنولوجيا وتزايد تعقيد الدوائر، أصبح من الضروري تطوير تقنيات مثل BIST لتسهيل عملية الاختبار.
على مر السنين، شهدت BIST العديد من التطورات، حيث تم تحسين الخوارزميات والطرق المستخدمة في تنفيذ الاختبارات. من بين هذه التطورات، تم دمج تقنيات مثل Built-in Logic Block Observers (BILBO) وTest Pattern Generation (TPG) لتعزيز أداء BIST.
تتضمن آليات BIST عدة مكونات أساسية:
BIST | الاختبارات التقليدية |
---|---|
يتطلب موارد أقل | يتطلب معدات اختبار خارجية |
يمكن تشغيله تلقائيًا | يحتاج إلى تدخل بشري |
يقلل من تكاليف الاختبار على المدى الطويل | تكاليف اختبار أعلى بسبب المعدات |
تتجه الأبحاث الحالية نحو تحسين فعالية BIST من خلال دمج تقنيات الذكاء الاصطناعي والتعلم الآلي. هذه التقنيات تهدف إلى تحسين خوارزميات الاختبار والتنبؤ بالأعطال بشكل أكثر دقة. كما يتم استكشاف استخدام BIST في التطبيقات الدقيقة مثل إنترنت الأشياء (IoT) والتطبيقات الطبية.
تستخدم BIST في مجموعة واسعة من التطبيقات، منها:
تشير الاتجاهات البحثية الحالية إلى التركيز على:
BIST هي تقنية حيوية تسهم في تحسين موثوقية الدوائر الإلكترونية وتقليل التكاليف، مما يجعلها موضوعًا مثيرًا للاهتمام في مجال تكنولوجيا أشباه الموصلات وأنظمة VLSI.