Chase
Contents:
  1. Parasitic Extraction (Russian)
    1. Определение
    2. Исторический фон и технологические достижения
      1. Ранние этапы
      2. Развитие технологий
    3. Связанные технологии и инженерные основы
      1. Основные принципы
      2. Сравнение: A vs B
    4. Последние тренды
      1. Увеличение плотности интеграции
      2. Использование машинного обучения
    5. Основные приложения
    6. Текущие исследовательские тренды и направления будущих исследований
      1. Исследования в области материалов
      2. Оптимизация обработки данных
      3. Интеграция с другими процессами
    7. Связанные компании
    8. Соответствующие конференции
    9. Академические общества

Parasitic Extraction (Russian)

Определение

Parasitic Extraction (параметрическое извлечение) — это процесс извлечения параметров, связанных с паразитными эффектами, существующими в интегральных схемах (IC), таких как затухание, индуктивность и ёмкость, которые могут влиять на производительность устройства. Эти параметры добавляются к основным электрическим характеристикам схемы, и их необходимо учитывать для достижения оптимальной работы в высокоскоростных и низкомощных приложениях.

Исторический фон и технологические достижения

Ранние этапы

Параметрическое извлечение начало развиваться в 1970-х годах с ростом сложности интегральных схем. Первоначально инженеры использовали простые модели для учета паразитных эффектов, однако с увеличением плотности упаковки и уменьшением размеров транзисторов, возникла необходимость в более точных и сложных методах.

Развитие технологий

С развитием технологий, таких как Deep Submicron (DSM) и FinFET, методы параллельного извлечения стали более сложными и требовательными. Появление инструментов автоматизированного проектирования (CAD) позволило значительно увеличить скорость и точность извлечения параметров.

Связанные технологии и инженерные основы

Основные принципы

Параметрическое извлечение основывается на понимании основных принципов электрических цепей, включая:

  • Кирхгофов закон: Используется для анализа токов и напряжений в цепях.
  • Теория цепей: Позволяет моделировать поведение электрических компонентов.
  • Параметры S (S-parameters): Используются для описания высокочастотного поведения пассивных компонентов.

Сравнение: A vs B

Extractor A vs Extractor B

  • Extractor A: Предоставляет высокую скорость извлечения и подходит для простых схем, однако может жертвовать точностью в сложных конфигурациях.
  • Extractor B: Обеспечивает высокую степень точности и подходит для сложных схем, но требует больше времени на извлечение параметров.

Последние тренды

Увеличение плотности интеграции

Современные тенденции в области интегральных схем направлены на увеличение плотности интеграции, что приводит к значительному увеличению паразитных эффектов. Это требует более продвинутых методов параллельного извлечения, таких как использование машинного обучения и глубокого обучения для предсказания паразитных параметров.

Использование машинного обучения

Модели машинного обучения начинают использоваться для оптимизации процесса извлечения параметров, что позволяет сократить время и повысить точность.

Основные приложения

  • Application Specific Integrated Circuits (ASICs): Параметрическое извлечение критично для обеспечения надежности и производительности.
  • RF (Radio Frequency) circuits: Параметры, такие как индуктивность и ёмкость, играют ключевую роль в высокочастотных приложениях.
  • Mixed-Signal Design: Параметрическое извлечение необходимо для интеграции аналоговых и цифровых компонентов.

Текущие исследовательские тренды и направления будущих исследований

Исследования в области материалов

Одним из ключевых направлений является исследование новых материалов с целью снижения паразитных эффектов. Это включает в себя использование графена и других двумерных материалов для создания более эффективных и быстрых интегральных схем.

Оптимизация обработки данных

Разработка новых алгоритмов для обработки данных, полученных в процессе параллельного извлечения, также является важной областью исследований. Это позволит улучшить качество извлечения и снизить затраты на проектирование.

Интеграция с другими процессами

Интеграция параллельного извлечения с другими процессами проектирования, такими как верификация и тестирование, может значительно повысить эффективность разработки.


Связанные компании

  • Cadence Design Systems
  • Synopsys
  • Mentor Graphics
  • Ansys

Соответствующие конференции

  • Design Automation Conference (DAC)
  • International Conference on VLSI Design
  • IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC)

Академические общества

  • IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers)
  • ACM (Association for Computing Machinery)
  • IEEE Solid-State Circuits Society

Эта информация предоставляет общее представление о параметрическом извлечении, его значении в области полупроводниковых технологий и VLSI-систем, а также о текущих тенденциях и направлениях будущих исследований.