Founder of VLSI Korea. Staff Engineer at Synopsys — STA and physical-design methodology for advanced-node tape-outs. EE BS·MS · MBA. Writes from Seoul.
portuguese
Sumário executivo * Mercado pequeno e elevada carga de I&D: A indústria de EDA é um nicho de mercado com uma base de clientes muito limitada, o que torna a investigação e desenvolvimento (I&D) para o desenvolvimento de software extremamente dispendiosa. * O número limitado de empresas de
russian
Исполнительное резюме * Малый рынок и высокая нагрузка на НИОКР: Индустрия EDA - это нишевый рынок с очень ограниченной клиентской базой, что делает исследования и разработки (НИОКР) для разработки программного обеспечения чрезвычайно дорогостоящими. * Ограниченное количество компаний, разрабатывающих микросхемы в мире, затрудняет достижение эффекта масштаба, что приводит к высокой стоимости инструментов на
chinese
执行摘要 * 小市场和高研发负担：EDA 行业是一个利基市场，客户群非常有限，因此软件开发的研发 (R&D) 成本极其高昂。 * 由于先进半导体设计的失败成本很高，芯片制造商需要为具有大量成功案例（黄金参考）的可靠工具支付高昂的费用，而 EDA 公司则需要花费大量资金来确保其工具的准确性和覆盖范围。 * 台积电和三星等晶圆厂在其最新工艺中只采用官方认证的 EDA 工具，Fabless 与这些工具绑定，因此很难选择替代工具。 高价格的结构性原因 1. 市场规模极小、R&；D摊销、双重垄断： 1. EDA 是一个非常小的市场，其主要客户是全球的半导体设计公司。 2. 例如，EDA 行业的总收入只有几十亿美元，前三大公司（Synopsys、Cadence 和 Siemens EDA）占据了约 75% 的市场份额。 3. 半导体设计有许多不同的阶段，在每个阶段，
japanese
Executive Summary * 少数の市場と高い研究開発コスト: EDA業界は、顧客層が非常に限られたニッチ市場であり、ソフトウェア開発のための研究開発（R&D）に多大なコストがかかります。 * 世界中のチップ設計企業の数が限られているため、規模の経済を実現することが難しく、その結果、顧客一人当たりのツールコストが高くなります。 * 高度な半導体設計における高い失敗コストのため、チップメーカーは成功事例の多い（Golden Reference）信頼性の高いツールにプレミアムを支払い、EDAメーカーはツールの精度と責任範囲を確保するために莫大な費用を支払います。 * TSMCやSamsungのようなFoundryは、最新のプロセスで正式に認証されたEDAツールのみの方法論を配布し、Fablessはそのツールに縛られ、代替を選択することが困難です。 高価格の構造的原因 1. 極端に小さい市場規模、R&；D償却、Duopoly： 1. EDA は、世界中の半導体設計会社を主な顧客とする非常に小さな市場です。 2. 例えば、EDA業界の総売上高は数十億
spanish
Resumen ejecutivo * Pequeño mercado y elevada carga de I+D:La industria EDA es un nicho de mercado con una base de clientes muy limitada, lo que hace que la investigación y desarrollo (I+D) para el desarrollo de software sea extremadamente costosa. * El limitado número de empresas de diseño
korean
Executive Summary * 소수 시장과 높은 R&D 부담: EDA 산업은 고객층이 극히 제한된 틈새시장으로, 소프트웨어 개발을 위한 연구개발(R&D)에 막대한 비용이 든다. * 전세계 칩 설계 기업 수가 제한적이라, 규모의 경제를 이루기 어려우며, 그로 인해 개별 고객당 부담해야 하는 툴 비용이 높게 책정된다. * 첨단 반도체 설계에서 높은
korean
5. Memory 구조 관점에서 March가 직관적으로 보이는 이유 5.1 Access 방식 SRAM 한 bank를 떠올려보면: * Address bus로 특정 row(wordline)를 선택 * 그 row에 연결된 bitline을 통해 cell의 값을 읽거나 쓴다 * 한 번에 “한 address”만 확실하게 control 가능 그래서 test의 기본 단위는 자연스럽게 이렇게 된다. “주소 하나 선택
portuguese
Quando você chega ao laboratório DFT pela primeira vez depois de trabalhar em design lógico, há um ponto em que você fica mais confuso. Scan, ATPG, padrão preso, padrão de transição, etc. são familiares, mas no momento em que você vai para o lado da memória, você de repente fala
russian
Когда вы впервые приходите в лабораторию DFT после работы в области логического проектирования, наступает момент, когда вы больше всего растеряны. Сканирование, ATPG, паттерн "застрял-ат", паттерн перехода и т. д. знакомы, но как только вы переходите на сторону памяти, вы вдруг начинаете говорить об алгоритме Марча, MBIST, модели ошибок.
chinese
当您在从事逻辑设计工作后第一次来到 DFT 实验室时，有一点是您最困惑的。 扫描、ATPG、卡顿模式、过渡模式等都很熟悉，但一到存储器方面，您就会突然谈到March 算法、MBIST、故障模型。 即使是资深的 DFT 工程师有时也会对此感到困惑： "March C- 究竟涵盖了哪些故障？ 它有哪些缺点......" "为什么它要上下两次？" 本文的目的很简单。 * 对于那些已经熟悉 DFT/ATPG，但内存测试很尴尬的人，我想解释一下 March 算法是什么，以及它为什么按此顺序工作、 * 它与逻辑测试模式的本质区别 * 以及在实践中经常听到的棋盘模式的作用 1.逻辑测试与内存测试：为什么模式不同？" 1.1 逻辑方面：扫描 + ATPG 的世界 一个典型的 逻辑块是这样测试的。 ↑ (w0) : 从地址
japanese
Logicデザインの方だけやっていて、DFT Labに初めて入ると一番戸惑うところがあります。 Scan、ATPG、stuck-at pattern、transition patternなどは慣れているのですが、memoryの方に行く瞬間、突然March algorithm、MBIST、fault modelの話が飛び出します。 しかも、シニアDFTエンジニアも時々こんなことを混乱することがあります。 "March C-は正確にどのようなfaultまでカバーするのか？ 短所は何だったっけ..." "なぜ必ずup/downで2回ずつ回るのか？" この記事の目標は単純です。 * DFT/ATPGはすでに慣れているが、memory testが苦手な人に * March algorithmが何であり、なぜそのような順序で動作するのか、 * Logic test patternと何が根本的に違うのか * そして、実務でよく聞くCheckerboard patternがどのような役割をするか 1.Logic Test vs Memory Test: なぜパターンが異なる
spanish
Cuando llegas al laboratorio de DFT por primera vez después de trabajar en diseño lógico, hay un punto en el que te sientes más confuso. Scan, ATPG, patrón stuck-at, patrón de transición, etc. son familiares, pero en el momento en que pasas al lado de la memoria, de repente hablas