DFT：March Algorithm?#Checkerboard #1

当您在从事逻辑设计工作后第一次来到 DFT 实验室时，有一点是您最困惑的。
扫描、ATPG、卡顿模式、过渡模式等都很熟悉，但一到存储器方面，您就会突然谈到March 算法、MBIST、故障模型。

即使是资深的 DFT 工程师有时也会对此感到困惑：

"March C- 究竟涵盖了哪些故障？ 它有哪些缺点......"
"为什么它要上下两次？"

本文的目的很简单。

• 对于那些已经熟悉 DFT/ATPG，但内存测试很尴尬的人，我想解释一下 March 算法是什么，以及它为什么按此顺序工作、
• 它与逻辑测试模式的本质区别
• 以及在实践中经常听到的棋盘模式的作用

1.逻辑测试与内存测试：为什么模式不同？"

1.1 逻辑方面：扫描 + ATPG 的世界

一个典型的 逻辑块是这样测试的。

↑ (w0) : 从地址 0 到 MAX 的每个单元格写 0。
↑ (r0, w1)：再次从地址 0 到 MAX，如果为 0 (r0)，则读取并写入 1