japanese
RTL2GDS: DFT. SCAN, BIST, ATPG
半導体品質保証とDFTの進化 現代の半導体産業、特にSystem on Chip設計分野におけるDesign for Testability(DFT)の-設計">半導体品質保証とDFTの進化 現代の半導体産業、特にSystem on Chip設計分野において、Design for Testability(以下DFT)は製造後検証のための設計を超え、製品全体のライフサイクルと経済性を決定づける核心的な工学分野として位置づけられています。 ムーアの法則に基づくトランジスタ集積度の指数関数的増加は必然的に製造欠陥の発生確率を高め、7nm、5nm、 3nmへと続く超微細プロセスノードでは、従来の単純なスタックアットフォールトモデルでは説明できない複雑な欠陥メカニズムが出現しています。 DFTの主な目的は大きく三つにまとめられます。 * 第一に、フォールトカバレッジの最大化による品質保証です。 自動車、航空宇宙、医療機器など、機能安全が必須の分野では、DPPM(Defective Parts Per Million)を0に近づけることが必須です。 * 二つ目はテストコストの削減で