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[VLSI CAD] 최적해가 어려운 이유: NP-hard, heuristic, AI EDA

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[VLSI CAD] 최적해가 어려운 이유: NP-hard, heuristic, AI EDA

TL;DR * 반도체 설계의 핵심 최적화 문제들은 대부분 NP-hard / NP-Complete / PSPACE-complete라서, “최적해”를 보장하는 알고리즘은 스케일이 커지면 사실상 못 돈다. (예를들어 2가지 경우의 수가 40개만 되어도, 1조개의 경우의 수이다.) * 그래서 EDA 툴은 처음부터 끝까지 heuristic + 근사 + 반복 개선로 설계된다. 이건 “툴이 구려서”가 아니라 문제 성질 때문이다. * AI/ML은 NP-hard를

By Chase Na - Semiconductor Design Engineer
Алгоритм DFT March? Шахматная доска 2

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Алгоритм DFT March? Шахматная доска 2

5. Почему март кажется интуитивным с точки зрения структуры памяти 5.1 Как получить доступ SRAM Рассмотрим банк: * Выбор конкретной строки (wordline) с помощью шины адреса * Считывание или запись значения ячейки через битную линию, подключенную к этой строке * В один момент времени можно с уверенностью контролировать только "один адрес&

By Chase Na - Semiconductor Design Engineer
DFT 三月算法?棋盘式 2

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5.为什么从内存结构的角度看 March 似乎很直观 5.1 如何访问 SRAM 考虑一个银行: * 使用地址总线选择特定行(字行) * 通过连接到该行的 位线读取或写入单元格的值 * 每次只能确定控制 "一个地址" 因此,测试的基本单元自然是这样的。 "选择一个地址 → 执行读/写序列 → 移动到下一个地址" 这个流程本身与 March 元素的定义几乎以 1:1 的比例重叠。 5.2 如何捕获地址解码器故障? 例如,在一个地址: * 解码器故障导致 两行同时亮起。 * 在此地址,w1可能会导致预期单元格为 1,以及相邻行中的单元格。 现在在另一个地址: * 我们预期相邻单元格为r0,但我们读取了1。 如果您多次重复 r0, r1, 像三月 C-

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DFTマーチアルゴリズム?チェッカーボード2

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DFTマーチアルゴリズム?チェッカーボード2

5.Memory構造の観点からMarchが直感的に見える理由 5.1 Access方式 SRAM 1バンクを思い浮かべてみると: figure class="kg-card kg-image-card"> * Address busで特定のrow(wordline)を選択 * そのrowに連結されたbitlineを通じてcellの値を読み書きする * 一度に"一つのaddress"だけ確実にcontrol可能 * * だからtestの基本単位は自然にこのようになります。 * * この流れ自体がMarch elementの定義とほぼ1:1で重なります。 * 例えば、あるアドレスで: * Decoder faultにより二つの rowが同時に点灯するとします。 * このアドレスにw1をすると、意図したcellだけでなく、隣のrowのcellも一緒に1になることがあります。 * 今度は別のアドレスで: * その隣のcellをr0と期待したのに1が読み込まれます。 * March C-のようにup/

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